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硅太阳电池组件工艺缺陷的红外检测技术作者 丁叶飞 ， 李红波 ， 张滢清 ， 薛永胜 ， 刘小宇 ， 陈鸣波作者单位 丁叶飞 ,李红波 ,薛永胜 ,陈鸣波 上海空间电源研究所 ， 张滢清 ,刘小宇 上海太阳能工程技术研究中心刊名 太阳能英文刊名 SOLAR ENERGY年，卷 期 2010， ““2被引用次数 0次参考文献 5条1. Sergei Ostapenko,William Dallas,Denial Hess,et al.Crack detection and analyses using resonanceultrasonic vibrations in crys-talline silicon wafers[R].Photovoltaic energy conversion,Confer-encerecord of the 2006 IEEE 4th world conference on volume 1,2006920-923.2. Van Der Heidea ASH,Bultman JH.Hoomstra J,et al.Optimizing the front side metallization procemsusing the corescan[R].Conference record of the twenty-ninth IEEE photovoltaic specialistsconference,2002340-343.3. Trupke T,Bardos RA.Progress with luminescence imaging for the characterisation of silicon wafersand solar cells[R].22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference,2007.4. Karsten Bothe,Peter Pohl,Jan Schmidt,et al.Electrolumines-ceflce imaging as an in-line characterizatiOn tool for solar cell production[R].Record of the 21st European Photovoltaic Solar EnergyConference,2006597-660.5. 刘恩科 ,朱秉升 ,罗晋生 .半导体物理学 [MI. 北京 国防工业出版社 ,2006273-278.本文链接 http//d.wanfangdata.com.cn/Periodical_tyn201002012.aspx授权使用徐珺 wfhdsf ，授权号 41836a74-4d4a-4612-bac3-9db7015b133c下载时间 2010年 7月 18日
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