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Presntd bySemilab异质结电池方阻的非接触测试方法基于差分结电压（dif-JPV）技术201/54 w.semilab.co 内容研究目的技术原理–JPV简介dif-特点测试结果–TCO方阻的测试结果i/p非晶硅论 附录–四探针测试准确性探讨201/54 w.semilab.co 2 研究目的往期进展结电压法JPV方阻测试技术可适用于–扩散池（如ERC、ERT和BSF等）方阻的精确、快速测量[1]电反型层方阻的离线量[2] 201/54 w.semilab.co 3Refrncs[1] F.Koó tal.,AIP Cnferc odings 2147,06 9.2SEyMatl Fax 21-567E-mail sibsila.conWesit w.seila.com
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