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SiNxH减反射膜 和 PECVD技术 目录 v SiNxH简介 v SiNxH在太阳电池中的应用 v PECVD原理 v光学特性和钝化技术 v系统结构及安全事项 2 SiNxH简介 v正常的 SiNx的 Si/N之比为 0.75,即 Si3N4。 但是 PECVD沉积氮化硅的化学计量比会随 工艺不同而变化, Si/N变化的范围在 0.75-2 左右。除了 Si和 N, PECVD的氮化硅一般 还包含一定比例的氢原子,即 SixNyHz或 SiNxH。 3 SiNxH简介 4 v物理性质和化学性质 Ø结构致密,硬度大 Ø能抵御碱金属离子的侵蚀 Ø介电强度高 Ø耐湿性好 Ø耐一般的酸碱,除 HF和热 H3PO4 SiNxH简介 vSi/N比对 SiNx薄膜性质的影响 Ø电阻率随 x增加而降低 Ø折射率 n随 x增加而降低 Ø腐蚀速率随密度增加而降低 5 SiNx在太阳电池中的应用 v自从 1981年( Hezel), SiNx开始应用于晶 体硅太阳电池 * 减反射膜 * 钝化薄膜( n发射极) 6 SiNx在太阳电池中的应用 SiNx的优点 Ø优良的表面钝化效果 Ø高效的光学减反射性能(厚度和折射 率匹配) Ø低温工艺(有效降低成本) Ø含氢 SiNxH可以对 mc-Si提供体钝化 7 SiNx在太阳电池中的应用 8 PECVD vPECVD Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition 即 “等离子增强型化学气相沉积 ”,是一种化学 气相沉积,其它的有 HWCVD, LPCVD, MOCVD等。 PECVD是借助微波或射频等使含有薄膜组成原 子的气体电离,在局部形成 等离子体 ,而等离子 化学活性很强,很容易发生反应,在基片上沉积 出所期望的薄膜。 9 PECVD 等离子体定义 Ø地球上,物质有三态,即固,液,气。 Ø其共同点是由原子或分子组成,即基本单元是原 子和分子,且为电中性。 Ø等离子体气体在一定条件下受到高能激发,发 生电离,部分外层电子脱离原子核,形成电子、 正离子和中性粒子混合组成的一种形态,这种形 态就称为等离子态,即第四态。 Ø等离子体从宏观来说也是电中性,但是在局部可 以为非电中性。 10 PECVD原理 v PECVD技术原理是利用低温等离子体作能量源,样品置 于低气压下辉光放电的阴极上,利用辉光放电(或另加发 热体)使样品升温到预定的温度,然后通入适量的反应气 体,气体经一系列化学反应和等离子体反应,在样品表面 形成固态薄膜。 PECVD方法区别于其它 CVD方法的特点 在于等离子体中含有大量高能量的电子,它们可以提供化 学气相沉积过程所需的激活能。电子与气相分子的碰撞可 以促进气体分子的分解、化合、激发和电离过程,生成活 性很高的各种化学基团,因而显著降低 CVD薄膜沉积的温 度范围,使得原来需要在高温下才能进行的 CVD过程得以 在低温下实现。 11 CVD各工艺条件的比较 v其它方法的沉积温度 APCVD 常压 CVD, 700-1000℃ LPCVD 低压 CVD, 750℃ , 0.1mbar 对比 PECVD 300-450 ℃ , 0.1mbar 12 PECVD的特点 PECVD的一个基本特征是实现了薄膜沉积工 艺的低温化( 450℃ )。因此带来的好处 Ø节省能源,降低成本 Ø提高产能 Ø减少了高温导致的硅片中少子寿命衰减 13 PECVD种类 vPECVD的种类 直接式 基片位于一个电极上,直接接触等离子 体(低频放电 10-500kHz或高频 13.56MHz) 间接式 基片不接触激发电极(如 2.45GHz微波 激发等离子) 14 PECVD种类 直接式的 PECVD 15 PECVD种类 16 PECVD种类 间接式的 PECVD 17 PECVD种类 间接 PECVD的特点 在微波激发等离子的设备里,等离子产生在 反应腔之外,然后由石英管导入反应腔中。在这 种设备里微波只激发 NH3,而 SiH4直接进入反应 腔。 间接 PECVD的沉积速率比直接的要高很多, 这对大规模生产尤其重要。 18 光学参数 v厚度的均匀性 nominal 约 70 nm – 同一硅片 /- 5 – 同一片盒内的硅片 /- 5 – 不同片盒内的硅片 /- 5 v折射率 nominal 约 2.1 – 同一硅片 /- 0.5 – 同一片盒内的硅片 /- 0.5 – 不同片盒内的硅片 /- 0.5 19 钝化技术 v对于 Mc Si,因存在较高的晶界、点缺陷(空 位、填隙原子、金属杂质、氧、氮及他们的复合 物)对材料表面和体内缺陷的钝化尤为重要,除 前面提到的吸杂技术外,钝化工艺一般分表面氧 钝化和氢钝化。 v表面氧钝化通过热氧化使硅悬挂键饱和是一种 比较常用的方法,可使 Si-SiO2界面的复合速度大 大下降,其钝化效果取决于发射区的表面浓度、 界面态密度和电子、空穴的俘获截面。在氢气氛 围中退火可使钝化效果更加明显。 20 钝化技术 v氢钝化钝化硅体内的悬挂键等缺陷。在晶体生 长中受应力等影响造成缺陷越多的硅材料,氢钝 化的效果越好。氢钝化可采用离子注入或等离子 体处理。在多晶硅太阳电池表面采用 PECVD法镀 上一层氮化硅减反射膜,由于硅烷分解时产生氢 离子,对多晶硅可产生氢钝化的效果。 应用 PECVD Si3N4可使表面复合速度小于 20cm/s。 21 二氧化硅膜和氮化硅膜的比较 v热氧化二氧化硅和 PECVD氮化硅钝化效果的比较 22 二氧化硅膜和氮化硅膜的比较 v从比较图中看出二氧化硅膜的表面复合速率 明显高于氮化硅膜,也就是说氮化硅膜的钝化 效果比二氧化硅膜好。若表面氧钝化采用 在氢 气氛围中退火,钝化效果会有所改善。 23 钝化技术 24 钝化技术 25 安全事项 使用和维护本设备时必须严格遵守操作规程和 安全规则,因为 v本设备的工艺气体为 SiH4和 NH3,二者均有毒, 且 SiH4易燃易爆。 v本设备运行时会产生微波辐射,每次维护后和停 机一段时间再开机前都要检测微波是否泄漏。 26
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