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单体电池的制造 硅单体太阳电池的主要制造工艺主要包包括表面准备、扩散制结、制作电极和减反射膜几道工序,下面分 别作一叙述 2.1 硅片的表面处理 硅片的表面准备是制造硅太阳电池的第一步主要工艺,它包括硅片的化学清洗和表面腐蚀。 2.1.1 硅片的化学处理 通常,由单晶棒所切割的硅片表面可能污染的杂质大致可归纳为三类1、油脂、松香、蜡等有机物质。 2、金属、金属离子及各种无机化合物。3 、尘埃以及其它可溶性物质,通过一些化学清洗剂可以达到去污 的目的。如硫酸、王水、酸性和碱性过氧化氢溶液等。 2.1.2 硅片的表面腐蚀 m 厚的损伤层,腐蚀液有酸性和碱性两类。 硅片经过初步清洗去污后,要进行表面腐蚀,这是由于机械 切片后,在硅片表面留下的平均为 30~50 1、酸性腐蚀法 硝酸和氢氟酸的混合液可以起到很好的腐蚀作用,其溶液配比为浓硝酸氢氟酸101 到 21。硝酸的 作用是使单质硅氧化为二氧化硅,其反应为 3Si4HNO33SiO22HO24NO 而氢氟酸使在硅表面形成的二氧化硅不断溶解,使反应不断进行,其反应为 生成的络合物六氟硅酸溶于水,通过调整硝酸和氢氟酸的比例,溶液的温度可控制腐蚀速度,如在腐蚀液 中加入醋酸作缓冲剂,可使硅片表面光亮。一般酸性腐蚀液的配比为 硝酸氢氟酸醋酸53 3 或 511 2、碱性腐蚀 硅可与氢氧化钠、氢氧化钾等碱的溶液起作用,生成硅酸盐并放出氢气,化学反应为 Si2NaOHH2ONa2SiO32H2 C 下不同浓度的 NaOH 溶液对(100)晶向硅片的腐蚀速度。出于经济上的考虑,通常用较廉价的 NaOH 溶液,图 3.4 为 100 图 3.4 硅片在不同浓度 NaOH 溶液中的腐蚀速率 碱腐蚀的硅片表面虽然没有酸腐蚀光亮平整,但制成的电池性能完全相同,目前,国内外在硅太阳电池生 产中的应用表明,碱腐蚀液由于成本较低,对环境污染较小,是较理想的硅表面腐蚀液,另外碱腐蚀还可 以用于硅片的减薄技术,制造薄型硅太阳电池。 2.1.3 碱面硅表面的制备 太阳电池主要进展之一是应用了绒面硅片,绒面状的硅表面是利用硅的各向异性腐蚀,在硅表面形成无数 的四面方锥体,图 3.5 为扫描电子显微镜观察到的绒面硅表面。 图 3.5 在扫描电镜下绒面电池表面的外貌 m 的峰是方形底面金字塔的顶。这些金字塔的 高 10 侧面是硅晶体结构中相交的111面 由于入射光在表面的多次反射和折射,增加了光的吸收,其反射率很低,故绒面电池也称为黑电池或无反 射电池。 m 为宜。各向异性腐蚀即腐蚀速度随单晶的不同结晶方向而变化,一般说来,晶面间的共价健密度越高, 也就越难腐蚀。对于硅而言,如选择合适的腐蚀液和腐蚀温度,(100)面可比(111 )面腐蚀速度大数 十倍以上。因此,(100)硅片的各向异性腐蚀最终导致在表面产生许多密布的表面为(111 )面的四面 方锥体,由于腐蚀过程的随机性,方锥体的大小不等,以控制在 3~6 C 左右,为了获得均匀的绒面,还应在溶液中添加醇类(如无水乙醇或异丙醇等)作为络合剂,加快硅的 腐蚀。 硅的各向异性腐蚀液通常用热的碱性溶液,如氢氧化钠,氢氧化钾,氢氧化锂,联氨和乙二胺等, 商品化电池的生产中,通常使用廉价的氢氧化钠稀溶液(浓度为 1~2)来制备绒面硅,腐蚀温度为 80 2.2 扩散制结 制结过程是在一块基体材料上生成导电类型不同的扩散层,它和制结前的表面处理均是电池制造过程中的 关键工序。制结方法有热扩散,离子注入,外延,激光及高频电注入法等。本节主要介绍热扩散法。 扩散是物质分子或原子运动引起的一种自然现象,热扩散制 pn 结法为用加热方法使 V 族杂质掺入 P 型 或Ⅲ族杂质掺入 n 型硅。硅太阳电池中最常用的 V 族杂质元素为磷,Ⅲ族杂质元素为硼。 /□,硅太阳电池所用的主要热扩散方法有涂布源扩散,液态源扩散,固态源扩散等,下面分别对这几种方 法作简单介绍。m,方块电阻均 20~70 对扩散的要求是获得适合于太阳电池 pn 结需要的结深和扩散 层方块电阻,浅结死层小,电池短波响应好,而浅结引起串联电阻增加,只有提高栅电极的密度,才能有 效提高电池的填充因子,这样,增加了工艺难度,结深太深,死层比较明显,如果扩散浓度太大,则引起 重掺杂效应,使电池开路电压和短路电流均下降,实际电池制作中,考虑到各个因素,太阳电池的结深一 般控制在 0.3~0.5 2.2.1 涂布源扩散 涂布源扩散一般分简单涂源扩散和二氧化硅乳胶源涂布扩散。 简单涂源扩散是用一、二滴五氧化二磷或三氧化二硼在水(或乙醇)中稀溶液,预先滴涂于 p 型或 n 型硅 片表面作杂质源与硅反应,生成磷或硼硅玻璃。沉积在硅表面的杂质元素在扩散温度下向硅内部扩散。因 而形成 pn 或 np 结。 工业生产中,涂布源方法有喷涂,刷涂,丝网印刷,浸涂,旋转涂布等。该方法成本低廉,适宜于小批量 生产涂源扩散工艺的主要控制因素是扩散温度,扩散时间和杂质源浓度,最佳扩散条件常随硅片的性质和 扩散设备而变化。 实例 p 型硅片 晶向(111) 电阻率 cm 1.0 C扩散温度 900~950 扩散时间 10~15min 氮气流量 30~70ml/min 杂质源为特纯 P2O5 在水或乙醇中的溶液 /□表面方块电阻 20~40 C 下烧烘烤后逐步形成无定型的二氧化硅。二氧化硅乳胶可在硅酸乙酯中加水和无水乙醇经过水解而成, 也可将四氯化硅通入醋酸后加乙醇制得。乳胶中适量溶解五氧化二磷或三氧化二硼等杂质,并经乙醇稀释 成可用的二氧化硅乳胶源。二氧化硅乳胶实际上是一种有机硅氧烷的水解聚合物,能溶于乙醇等有机溶 剂中,形成有一定粘度的溶液,它在 100~400 cm实例,1 P 型硅片中,将掺杂五氧化二磷的这种源涂布, C干燥温度 200 C扩散温度 800~950 扩散时间 15~ 60min /□则可使方块电阻为 10~40 m 左右。结深 0.5 2.2.2 液态源扩散
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