晶硅进料检验规范-solarbe文库

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晶硅进料检验规范质量管理部1（共 12 页）晶硅进料检验规范（初稿）编制审核批准发布日期实施日期晶硅进料检验规范质量管理部2（共 12 页）1 目的1.1 为规范所有生产原材料进厂检验的标准，验证进厂原辅材料是否满足规定要求，正确地开展检验工作，确保未经检验或不合格的原辅材料不入库、不投入生产。2 适用范围2.1 与本公司产品有关的原辅材料、外调品等均适用。3 术语3.1 严重缺点（ CRITICAL DEFECT）影响人身安全、产品安全的缺陷，违反相关法律法规要求。3.2 主要缺点 MAJOR DEFECT使用后丧失其功能，或不能达到设计者所期望的目的、显著降低其实用性的缺陷。3.3 次要缺点 MINOR DEFECT不影响产品的使用性能，在使用和操作效果上无影响的缺陷。4 职责4.1 质量管理部进料检验员负责原辅材料的检验及判定。4.2 采购物流部负责与供应商处理来料检验不合格事项及追踪不良改善效果。4.3 调度中心负责对质量管理部检验合格的产品清点数量后入库管理。5 工作内容5.1 抽样检验时取样原则依抽样计划规定要求执行。5.1.1 外观检验依据 GB/T 2828.1-2003/ISO2859-11999 正常检验单次抽样计划表正常单次抽样。严重缺点 CR0 ；主要缺点 MAAQL0.40 ；次要缺点 MIAQL 0.65 进行检验。检验项目包装外观尺寸抽检比例 AQL0.65 AQL0.40 5 样本 / 批缺陷类别次要缺点（ MI）主要缺点（ MA）主要缺点（ MA）判定结果依 AQL执行依 AQL执行 Ac0,Re1 5.2 外观检测条件检验光源一般日光灯光源之正下方 30cm左右。距离眼睛离被测物约 2050cm。角度上下左右 45 度观察。检测位置产品六个面均需检验。6 技术规格及相关内容6.1 产品外型检验要求及质量等级分类。6.2 正面印刷质量与反面印刷质量的检测与分类。6.3 性能测试。晶硅进料检验规范质量管理部3（共 12 页）6.1 外型尺寸要求序号项目几何形状尺寸规格等级尺寸公差等级检验方式1 长宽正方形A 级 B 级 A 级 B 级抽检156mm 156mm 156mm 156mm 边长± 0.5mm；垂直度± 0.3 o边长± 0.5mm 垂直度± 0.3 o2 倒角无 1.0 ～ 1.5mm; 45±10o 1.0 ～ 1.5mm; 45±10o 无无抽检3 弯曲度无≤ 1.87 mm （由于工艺的特点，对应电池片储存后弯曲度为 1.5 mm）1.87 mm＜弯曲度≤2.5mm 无无全检晶硅进料检验规范质量管理部4（共 12 页）6.1.2 外观要求序号缺陷种类质量要求检验方式A级 B 级1 缺角不允许有缺角，但保证正面四个角印刷框线完整全检2 裂纹不允许不允许全检3 V缺口不允许不允许全检4 非 V缺口不允许尺寸≤ 0.5mm 1.0mm，总数≤ 5 个全检5 穿孔不允许不允许全检晶硅进料检验规范质量管理部5（共 12 页）6 正面崩边崩边深度≤ 0.5mm，长度≤ 1.0mm，总数不超过 3 个崩边深度≤ 0.5mm，长度≤ 1.0mm， 3＜总数≤ 5 个全检7 颜色电池为深蓝、蓝色、浅蓝或浅浅蓝，目视均匀，色差面积≤ 1 ㎝ 2，不允许明显发黄电池为深蓝、蓝色、浅蓝或浅浅蓝， 1cm2＜色差面积≤ 2cm2，目视均匀全检8 沾污无明显沾污不允许全检9 划伤刮伤宽度≤ 1 ㎜，总长度≤ 10 ㎜，不允许破坏减反射层不允许全检10 吸嘴小白圈无明显印迹不允许全检11 水纹无明显水纹不允许全检12 斑点面积≤ 1.0 mm2 时，总数≤ 1 个；面积≤ 0.2 mm2 时，总数≤ 5 个；其余微型斑点，在正常检验情况下不明显即可1.0 mm2＜面积≤ 2.0 ㎡全检晶硅进料检验规范质量管理部6（共 12 页）6.2 正面印刷质量序号检验项目质量要求检验方式1 印刷偏移（左右偏移，角偏移）非 MWT MWT A级 B 级 A 级 B级两边距离差≤ 0.5 mm，栅线不能印刷到电池片边缘0.5mm＜两边距离差≤0.8 mm，栅线不能印刷到电池片边缘两边距离差≤ 0.4 mm，栅线不能印刷到电池片边缘，主栅交点与孔间距≤ 0.2mm 0.4 mm＜两边距离差≤0.6 mm，栅线不能印刷到电池片边缘， 0.2mm≤主栅交点与孔间距≤ 0.3mm 全检2 正面主栅线缺损面积＜ 0.5mm 3 mm，缺损处≤ 1 个缺损面积＜ 0.5mm 3mm，个＜缺损处≤ 2 个缺损面积＜ 0.4mm 0.4mm，缺损处≤ 1；边缘主栅与主栅第一个交点以外部分主栅不能有断栅0.4 mm 0.4 mm＜缺损面积≤ 0.5 mm 0.5mm，缺损处≤ 1，边缘主栅与主栅第一个交点以外部分主栅允许有 1 处断栅全检晶硅进料检验规范质量管理部7（共 12 页）3 次栅线断栅（ MWT包括主栅）A级 B级全检断栅长度≤ 0.5 mm ，断栅数≤ 3 个，且不能在同一条栅线上 , 不能在平行且相邻三条栅线的同一个位置断栅长度≤ 0.5mm， 3 个＜断栅数≤ 10 个，或 0.5 mm＜断栅长度≤ 1mm 4 正面漏浆漏浆点≤ 2 个，每点面积≤ 0.5 mm2（ MWT 电池片在主栅线两侧漏浆的情况不计）2 个＜漏浆点≤ 5 个，每点面积≤ 0.5 mm2（ MWT 电池片在主栅线两侧漏浆的情况不计）全检5 结点栅线结点数≤ 3，且结点长≤ 1mm，宽度≤ 0.5mm 3＜栅线结点数≤ 10，且结点长≤ 1mm，宽度≤ 0.5 mm 全检6 虚印正视无虚印虚印面积≤ 100mm2 全检7 次栅线偏粗不允许重复印刷，栅粗单根长度≤ 10mm；个数≤ 3 个不允许重复印刷全检8 主栅线翘曲无 / 全检9 栅线氧化无轻微氧化全检晶硅进料检验规范质量管理部8（共 12 页）6.2.1 背面印刷质量序号检验项目质量要求检验方式1 电极偏移非 MWT MWT A 级 B 级 A级 B级背电极与背场间隙宽度≤0.11mm 0.1 ＜背电极与背场间隙宽度≤ 0.2mm 通孔银浆的中心和孔的中心偏差≤≤ 0.2mm 通孔银浆的中心和孔的中心偏差≤ 0.3mm 全检2 背电场印刷偏移两边距离差（左右偏移，角偏移）≤ 0.5 mm，没有浆料接触到边缘0.5mm＜两边距离差 ≤0.8 mm，没有浆料接触到边缘两边距离差（左右偏移，角偏移）≤ 0.4 mm，没有浆料接触到边缘0.4mm＜两边距离差 ≤0.6 mm，没有浆料接触到边缘全检晶硅进料检验规范质量管理部9（共 12 页）3 背银缺损缺损面积＜ 0.5mm 3mm，缺损处≤ 1 个缺损面积＜ 0.5mm 3mm，1 个＜缺损处≤ 2 个缺损面积≤ 0.4mm 0.4mm,缺损处≤ 1 个0.4 mm 00.4mm＜缺损面积＜ 0.4 mm 1.5mm， 1 个＜缺损处≤ 2 个全检4 背面缺损面积≤ 20mm2 20mm2＜面积≤ 1mm2 全检5 铝刺无无全检6 铝包（有手感）无无全检7 背电场起泡背电场起泡、或有脱落倾向的不允许/ 全检8 背银氧化无轻微氧化全检备注对外观、印刷质量和外形进行检测时，可用标准样片进行对比。晶硅进料检验规范质量管理部10（共 12 页）6.3 性能测试序号检验项目质量要求检验方式1 Eff A级 B 级Eff ≥ 13.00 Eff ≥ 13.00 全检2 Irev2 （两主栅） Irev ＜ 3.0 Irev ≥ 3.0 全检3 Irev2 ， Irev1Rsh （三主栅、 MWT）Irev2 ＜ 2， Irev1 ＜ 2， Rsh≥ 10 Irev2 ≥ 2， Irev1 ≥ 2， Rsh＜ 10 全检备注不满足 A、 B 级要求的电池为 C 级。其中外观，正面印刷质量，背面印刷质量，弯曲，尺寸不满足 A、 B 级要求的电池为 C1；缺损不满足 A、 B 级要求归为 C2 级。晶硅进料检验规范质量管理部11（共 12 页）晶硅进料检验规范质量管理部12（共 12 页）进料检验作业内容7.1.1 入库验收材料到达公司后采购和仓储科相关人员共同收料并按送货单清点数量同时通知进料检验员检验，如数量不符直接退回供应商。采购员应提供供应商出厂检验报告或相关检验依据给进料检验员。7.1.2 进料检验员在接到检验通知并确认 OK后 , 依 7.8.3 项要求进行检验及入库的动作。7.1.3 检验结果合格后，粘贴合格标签，正常入库。7.1.4 当发现异常时，粘贴红色不合格标签，在来料检验报告中判定拒收，由采购发给供应商进行处理。后期改善后，质量管理部需进行改善效果确认，持续追踪三笔进料无相同异常，则改善合格。进料条件要求8.1.1 供应商必须为合格供应商名单内列出的厂商，来料产品必须是经我司承认后的产品。供应商送样产品除外。8.2.2 来料如为采购临时调料（或其它原因导致生产急需），采购部必须开正式联络单通知质量管理部，生产部等单位，经公司副总签核，质量管理部提供临时检验标准进行物料检验。生产时相关单位共同随线确认来料品质状况。8.3.3 相同的原料，有多家供应商交货时，应分别执行检验及测试。8.4.4 相关环境物料需提供 SGS或 MSDS报告。8.5.5 外购半 / 成品材料检验项目参照制程检验规范或全检检验规范。晶硅进料检验规范质量管理部13（共 12 页）修订内容修订日期变更内容版本 / 次修改人批准人总页数2013-10-21 对部分原材料性能检测项目进料检验流程图进行了删除。A/1 12 页