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PID效应及影响因素作者 曾雪华 , 张志根 , 蒋建平作者单位 常熟阿特斯阳光电力科技有限公司刊名 太阳能英文刊名 Solar Energy年,卷 期 20133参考文献 3条1. System voltage durability test for crystalline silicon modules-Qualification and type approval2. Berghold J . Frank O. Hoehne H Potential induced degradation of solar cells and panels 20103. del Cueto J A . McMahon T J Analysis of leakage currents in photovoltaic modules under high-voltage bias in thefield 200201本文链接 http//d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_tyn201303007.aspx
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